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MCP-PD51粉體阻抗測定系統(tǒng)特色用途：

1、用于研究開發(fā)、質量管理第一線，執(zhí)行粉體之物性管理

2、與阻抗率計(MCP-T610),Hiresta-UP(MCP-HT450)連接，以測定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗
3、樣品的交換、清掃簡單、可采一觸式著離探頭
4、各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積測定及數(shù)據(jù)、備有達執(zhí)行　　圖形化之軟件以供選購


MCP-PD51粉體阻抗測定系統(tǒng)同類產(chǎn)品：
★ MCP-T610　低阻抗率計 MCP-T610型 (桌上型）　Loresta-GP
★ MCP-PD51　粉體阻抗測定系統(tǒng) MCP-PD51　MCP-PD51
★ MCP-HT450　高阻抗率計 MCP-HT450型 (桌上型)　Hiresta-UP
★ MCP-T370　低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)　Loresta-AX
★ MCP-S620,S600,S521　MCP-S620,S600,S521　MCP-S620,S600,S521