CMI165牛津面銅測厚儀CMI165
CMI165牛津面銅測厚儀CMI165的簡介:1、顯示單位可為mils,?m或oz;2、用于銅箔的來料檢驗;3、用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試;4、用于電鍍銅后的面銅厚度測試;5、配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測試頭;6、可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試;7、利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測量,符合EN 14571測試標(biāo)準(zhǔn) ;
牛津面銅測厚儀CMI165 功能介紹:
CMI165是一款人性化設(shè)計、堅固耐用的世界首款帶溫度補(bǔ)償功能的手持式銅箔測厚儀。一直以來,面銅測量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影響。CMI165的溫度補(bǔ)償功能解決了這個問題,確保測量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性,即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測。
牛津面銅測厚儀CMI165技術(shù)參數(shù):
1、厚度測量范圍:化學(xué)銅:0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
電鍍銅:2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)
2、儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
3、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能,包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。
4、數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils、μm或oz
5、無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片,可實現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測量,可測線寬范圍低至0.2 mm
6、可以儲存9690條檢測結(jié)果(測試日期時間可自行設(shè)定)
7、測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實現(xiàn)高速傳輸,也可保存為Excel格式文件
8、儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
9、客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器
10、用戶可選擇固定或連續(xù)
SRP-T1探針:CMI165專用可更換探針
牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭,綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù),使其成為世界上首家推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測厚儀的制造商。
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